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8 Mbit Firmware Hub
A Microchip Technology Company
CLK
T SU
V TEST
T DH
SST49LF008A
Data Sheet
V TH
V TL
FWH [3:0]
(Valid Input Data)
Inputs
Valid
V MAX
1161 F14.0
Figure 11: Input Timing Parameters
Table 20: Interface Measurement Condition Parameters
Symbol
Value
Units
V TH
1
0.6 V DD
V
V TL1
V TEST
V MAX1
Input Signal Edge Rate
0.2 V DD
0.4 V DD
0.4 V DD
1 V/ns
V
V
V
T20.3 25085
1. The input test environment is done with 0.1 V DD of overdrive over V IH and V IL . Timing parameters must be met
with no more overdrive than this.
V MAX specified the maximum peak-to-peak waveform allowed for measuring input timing. Production testing may
use different voltage values, but must correlate results back to these parameters.
?2011 Silicon Storage Technology, Inc.
28
DS25085A
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